Une équipe de recherche de l'Université polytechnique de Hong Kong (PolyU) a développé un nouveau transistor à effet de champ de tunneling (TFET) utilisant des nanomatériaux 2D, surmontant la " limite de Boltzmann " physique qui limite l'efficacité énergétique des transistors traditionnels. Cette percée permet de réduire considérablement les exigences de tension de porte et d'améliorer les performances, permettant potentiellement des circuits intégrés ultra-faibles et hautes performances essentiels pour les futures puces d'IA. La recherche, dirigée par le professeur Jianhua Hao, a utilisé des hétérostructures ultra-minces de bismuth 2D et de séléniure d'indium, atteignant des valeurs d'oscillation sous-seuil bien inférieures à la limite de 60 mV décennie-1. Les résultats ont été publiés dans la revue Science, marquant une avancée significative dans la technologie des semi-conducteurs.
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